ED400型渦流測厚儀

       儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。

技術參數

測量范圍：     0～500μm
測量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：      0～50μm：0.1μm；
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     280g

天星渦流測厚儀ED400是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

渦流測厚儀ED400儀器特點

ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：*量程寬 ED400型的量程達到0～500μm。

*精度高 ED400型的測量精度達到2%。

*分辨率高 ED400型的分辨率達到0.1μm。

*校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。

*基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。

*可靠性提高 采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性提高。

*穩定性提高 采用先進的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現場長期使用。

*探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。

*探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。

*探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。

渦流測厚儀ED400技術參數

測量范圍： 0～500μm

測量精度： 0～50μm：±1μm；

50～500μm：±2%

分辨率： 0～50μm：0.1μm、

50～500μm：1μm；

0～500μm：1μm（可選）

配置與選配

標準配置

主機 1臺

探頭 1支

基體 1塊（6063合金）

校正箔片 1片（約50μm，附檢測報告）

使用說明書 1份

合格證 1份

保修單 1份

手提式儀器箱1個

可選附件

備用探頭

基體

校正箔片（約50μm，附檢測報告）